（淮南低濕型恒溫恒濕試驗箱（低濕度溫濕度試驗箱））
什么是低濕型恒溫恒濕試驗箱，所謂得低濕型恒溫恒濕試驗箱，是在標(biāo)準(zhǔn)濕度的要求下，做更高要求的濕度標(biāo)準(zhǔn)。一般型的濕度范圍為20%~98%，低濕型的濕度范圍為10%~98%。如需要更高要求，可以定制5~98%得濕度標(biāo)準(zhǔn)。
低濕型恒溫恒濕試驗箱規(guī)格參數(shù)：
1.溫度范圍：A:0~+150℃/B:-20~+150℃/C:-40~+150℃/D:-60~+150℃/-70~+150℃
2.控制穩(wěn)定度：±0.5℃
3.分布均勻度：±2℃
4.溫度解析精度：0.01℃
5.升溫時間：+20℃~+150℃小于45分鐘非線性空載。
6.降溫時間：+20~0℃小于30分鐘/+20~-20℃小于45分鐘/+20~-40℃小于60分鐘/+20~-60℃小于90分鐘/+20~-70℃小于100分鐘非線性空載。
7.濕度范圍：低濕型：10％~98％RH；（可定制：5％~98％RH）
8.濕度均勻度：≤±3%R.H（+2、-3%RH）
低濕型恒溫恒濕試驗箱試驗標(biāo)準(zhǔn)：
GJB150.3-2009高溫試驗
GJB150.4-2009低溫試驗
GB/T-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件；
GB/T-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件；
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫（IEC-2-1:2007,IDT）;
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：低溫（IEC-2-1:2007,IDT）；
GB/T2423.3-2016環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab恒定濕熱試驗（IEC-2-78:2012,IDT）;
GB/T2423.4-2008環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab交變濕熱（12h+12h循環(huán)（IEC-2-30:2005,IDT）;
GB/T2423.22-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化（IEC-2-14:2009，IDT）；
GJB150.3-86**設(shè)備環(huán)境試驗方法第3部分高溫試驗；
GJB/T150.4-86**設(shè)備環(huán)境試驗方法第4部分低溫試驗；
GJB/T150.9-86**設(shè)備環(huán)境曬云方法第8部分濕熱試驗
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